納米激光粒度儀的校準(zhǔn)不僅要使用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)材料校準(zhǔn)儀器的性，而且主要要從這五個(gè)步驟進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　1.儀器光學(xué)參考

　　只有當(dāng)儀器的光學(xué)系統(tǒng)正常工作時(shí)，儀器的校準(zhǔn)才有意義，光學(xué)窗口是激光粒度分析儀的重要組成部分，因此，在測(cè)試之前，光學(xué)窗口的內(nèi)表面和外表面應(yīng)光滑，清潔且無(wú)缺陷。光學(xué)參考光譜平穩(wěn)且連續(xù)地過(guò)渡，沒(méi)有明顯的突出或凹陷。
 

　　2.外部條件對(duì)儀器的影響

　　外部條件主要包括濕度，溫度和電源電壓波動(dòng)對(duì)納米激光粒度儀結(jié)果的影響。

　　3.儀器測(cè)量的重復(fù)性

　　將儀器預(yù)熱至規(guī)定的時(shí)間，使用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)材料進(jìn)行多次測(cè)試，一般對(duì)樣品進(jìn)行6-10次測(cè)試，記錄每個(gè)D50，計(jì)算出測(cè)量平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。

　　4.儀器測(cè)量的相對(duì)誤差

　　與儀器重復(fù)性測(cè)量不同，應(yīng)至少使用三種國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)來(lái)測(cè)試儀器的相對(duì)誤差。每個(gè)樣品應(yīng)獨(dú)立測(cè)量3次，并應(yīng)計(jì)算其平均值以獲得多次粒度測(cè)量的平均值。分別計(jì)算出儀器測(cè)量平均值與粒度表中標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)值之間的相對(duì)誤差。

　　5.儀器分辨率

　　納米激光粒度儀的分辨率是通過(guò)測(cè)試兩個(gè)樣品的混合物來(lái)確定的。兩種粒徑參考物質(zhì)的轉(zhuǎn)移量應(yīng)根據(jù)其質(zhì)量濃度確定，以確?；旌蠘悠分袇⒖嘉镔|(zhì)的質(zhì)量比為1：2。將樣品均勻混合后，將樣品添加到儀器中進(jìn)行測(cè)量，如果從儀器測(cè)量的粒度分布曲線中可以觀察到兩個(gè)獨(dú)立且未連接的峰，則認(rèn)為這兩個(gè)峰是分離的。